ProSp-STAGE-RT透反射測量支架，由底座、高精密滑軌、載物臺、精密位移臺和2個準直透鏡組成。這個支架可以測量固體樣品的透反射光譜，也可以測量固體、粉末樣品的熒光光譜（配套熒光探頭）。對于反射光譜，可以實現(xiàn)上反射和下反射測量。測量距離可以調(diào)節(jié)，以適應(yīng)不同厚度的樣品
ProSp-STAGE-RT透反射測量支架，由底座、高精密滑軌、載物臺、精密位移臺和2個準直透鏡組成。這個支架可以測量固體樣品的透反射光譜，也可以測量固體、粉末樣品的熒光光譜（配套熒光探頭）。對于反射光譜，可以實現(xiàn)上反射和下反射測量。測量距離可以調(diào)節(jié)，以適應(yīng)不同厚度的樣品
應(yīng)用實例1-透過率測量
設(shè)備清單：
USB2000+光譜儀
SPL-HL鎢燈光源
ProSp-STAGE-RT透反射測量支架
SPLF400-2-VIS光纖（2）
應(yīng)用實例2-反射率測量
設(shè)備清單：
USB2000+光譜儀
SPL-HL鎢燈光源
ProSp-STAGE-RT透反射測量支架
QR400-7-VIS-NIR反射探頭
WS-1標準反射板
參數(shù)指標
| 規(guī)格 | ProSp-STAGE-RT |
| 底座尺寸 | 180mm直徑 |
| 樣品區(qū)域尺寸 | 130mm直徑 |
| 重量 | 4KG |
| 粗調(diào)范圍 | 0-100mm可調(diào) |
| 精調(diào)范圍 | 0-40mm,10um精度 |
| 光譜范圍 | 200-2500nm |
| 臺體材料 | 陽極氧化鋁 |
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