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顯微角分辨光譜測(cè)量是一種直接觀測(cè)微納米材料中電磁模式色散關(guān)系的方法。與角分辨光電子能譜（ARPES）在凝聚態(tài)物理和材料科學(xué)中的作用類似，顯微角分辨光譜測(cè)量是目前所有實(shí)驗(yàn)手段中能直接定量測(cè)量材料的電磁模式色散關(guān)系的工具。它是在光學(xué)顯微的基礎(chǔ)上，通過(guò)引入后焦平面成像技術(shù)，將光子k空間的角度信息經(jīng)傅里葉光學(xué)變換成像至實(shí)空間，實(shí)現(xiàn)了對(duì)材料微納米尺度區(qū)域的微區(qū)光譜和角分辨光譜的同時(shí)探測(cè)。利用MARPS對(duì)光子與微納米材料相互作用機(jī)制的深入研究，對(duì)于了解凝聚態(tài)物質(zhì)基本性質(zhì)、掌握微納結(jié)構(gòu)中的特殊的電磁模式的色散關(guān)系，并應(yīng)用于微型化光電器件的開(kāi)發(fā)，都具有重要的理論和實(shí)際意義。
為了理解顯微角分辨的技術(shù)原理，需要對(duì)系統(tǒng)中的一組共軛面進(jìn)行分析，這組共軛面包括了物鏡后焦平面、全內(nèi)反射平面、和角分辨平面。如同共軛面的概念所表達(dá)的，這三個(gè)平面之上的圖像可以同時(shí)清晰，即全內(nèi)反射平面上的一點(diǎn)經(jīng)成像后在物鏡后焦平面上匯聚為一點(diǎn)，再經(jīng)樣品反射，匯聚于角分辨平面上的一點(diǎn)。我們知道，物鏡后焦平面上的一點(diǎn)在物鏡前對(duì)應(yīng)著一個(gè)特定方向的平行光。也就是說(shuō)，全內(nèi)反射平面上的一點(diǎn)對(duì)應(yīng)著物鏡前一個(gè)特定方向的平行光。基于這個(gè)原理，在全內(nèi)反射平面上引入一根細(xì)光纖實(shí)現(xiàn)點(diǎn)光源，即可以在物鏡前形成一個(gè)特定方向的平行光（平行度受限于光纖芯徑，芯徑越大，平行度越差）。同樣的道理，物鏡前一個(gè)特定方向的平行光，可以匯聚進(jìn)入角分辨平面上的一根光纖。因此，通過(guò)在全內(nèi)反射平面和角分辨平面上對(duì)光纖端面的位置進(jìn)行實(shí)空間掃描，即可以實(shí)現(xiàn)特定角度的入射和出射，從而實(shí)現(xiàn)顯微角分辨光譜測(cè)量。由于物鏡天然具有對(duì)樣品微區(qū)空間分辨的能力，因此，基于這種方法的角分辨光譜技術(shù)稱為顯微角分辨光譜測(cè)量技術(shù)，實(shí)現(xiàn)這種技術(shù)的設(shè)備稱為顯微角分辨光譜測(cè)量。
